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HXKS-II K3技术开锁痕迹发现仪
HXKS-II K3技术开锁痕迹发现仪
价格:68000.00
产品特点/用途:
产品是针对开锁痕迹鉴定开发的一套专业系统工具,主要用于小型腔体的开锁痕迹快速检测和分析,APP控制,适配于任何带Type-C接口的安卓手机和平板,操作方便可适用性强。采用高清内窥镜头,随时随地显现物体内部真实细节,色彩鲜明,图像清晰,画面流畅,使用性强,产品通过相关部门的检测。
技术参数
外形尺寸:126mm*26mm*26mm
整机重量:110g
探测深度:0-63mm
探测摄像头直径:.8mm
线长:950mm
接口类型:TYPE-C
开关寿命:50000次
TYPE-C插拔寿命:3000次
显示屏:显示亮度档位,5挡可调 20% 40% 60% 80% 100% 关。
兼容性:采用安卓APP控制程序,平板和手机通用。
便携性:镜头采用人性化推拉伸缩隐藏式设计,镜头前段配备盖帽,防水防尘,保管更贴心。
镜头规格
传感器类型:1/18"
透镜组成:2P+IR
成像圈:1.18mm
后焦距:0.61mm
光圈比:3.6mn;5%
总轨道:2.250.1mm
相对照明:43.5%
图像失真:-2%
视场:D91
外径(带灯):1.8mm
分辨率:400*400
接口:USB
实拍效果